手动 MPS100A


使用4″及以下常规芯片测试。广泛应用于实验室抽样检测、教学。

产品特点:整体兼顾,稳定性好;体积小巧,性价比高。Chuck高绝缘性能,低漏电。

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适用于4、6、8英寸半导体\集成电路、分立器件晶圆的手动方式探针测试。配备有高可靠性高精度的XYZT四轴载片机构系统,巧妙设计粗微调机构,可快速定位并精密调整芯片位置。

稳定的龙门机构,可灵活配置显微镜系统(可适配金相显微镜,最大倍率达500X),也可针对光电芯片做双站测试。宽大的针座平台,最大可排布6个精密磁力针座,精巧的快速接触分离手柄设计,针座平台0-0.3-3三档快速接触分离,方便扎针。

CCD显示,观察对针更方便。低噪声CHUCK盘,真空分档控制,可选配RT-200℃温控模块实现高温测试。机构稳定性好,应用面广,满足各类芯片测试。

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手动 MPS200XT

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可配金相显微镜镜头,最大倍率达2500X ;CCD显示,观察对针更方便。宽大的针座平台,最大可排布8个精密磁力针座,精巧的快速接触分离手柄设计,针座平台0-0.3-3三档快速接触分离,方便扎针。低漏电三同轴高低温镀金CHUCK盘,支持晶圆三温测试;真空分档控制。

机构稳定性好,应用面广,满足各类芯片测试。可应用于高压(10kV)大电流(200A)测量案例;可应用射频测试。

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