产品中心


PRODUCT CENTER

全自动 AP300

AP300是一款12寸(兼容8寸)的高性能晶圆测试探针台,适用于8~12英寸半导体\集成电路、分立器件晶圆的全自动探针测试。

该设备具有良好的机械稳定性,精度稳定性,多年使用不用调校。配备有高可靠性自动上下片系统,具有薄片传输能力,应用面广。

高精度CCD视觉定位系统,全自动对针,视觉运动闭环控制系统,自动化程度较高。通过探针卡连接晶圆上芯片,加入输入信号,接受输出信号,进行电参数测量,实现晶圆级测试,由TESTER最终判断芯粒的好坏,实时显示在主界面map中。

可与不同类型的ATE测试机组合成测试解决方案,满足晶圆厂、封测厂等不同客户的测试需求。

了解更多

全自动 AP200

适用于6~8英寸半导体\集成电路、分立器件晶圆的全自动探针测试。配备全自动对针系统,高可靠性自动上下片系统,高精度CCD视觉定位系统,自动化程度高。采用加固高刚性的结构,稳定性更好。

自主可控技术;支持与各型测试仪表便捷快速构建测试系统。通过探针扎在芯粒的PAD上,加入输入信号,接受输出信号,将信号与测试仪表,进行电参数测试,由TESTER最终判断芯粒的好坏,实时显示在主界面map中。设备高精度、高刚性的工作台保证扎针精度。

灵活移动的显微镜观察系统,可实时观察探针测试情况。采用真空背吸机械手,应用面广,尤其满足大功率分立器件(IGBT、MOSFET);IC芯片测试。

了解更多

< 1 >